Kebutuhan akan perangkat elektronik dengan frekuensi
yang tinggi menyebabkan meningkatnya jumlah Electromagnetic
Interference (EMI). Perangkat elektronik rentan terhadap
gangguan EMI baik yang dihasilkan oleh perangkat itu sendiri
ataupun yang dihasilkan dari perangkat elektonik lainnya. Ada 2
jenis EMI berdasarkan cara perambatannya yaitu conducted
emission dan radiated emission. Dalam EMC (Electromagnetic
Compatibility), pengujian terhadap barang elektronika merupakan
masalah penting yang harus dilakukan agar barang tersebut bisa
diproduksi dan didistribusikan berdasarkan regulasi yang telah
ditetapkan. Anaechoic chamber dapat digunakan untuk pengujian
EMI / EMC namun cara ini terlalu mahal dan dibatasi
berdasarkan frekuensi. Oleh sebab itu, disarankan untuk
menggunakan TEM cell karena biayanya yang jauh lebih murah
dan lebih hemat waktu. Pada penelitian ini TEM Cell dirancang
dengan menggunakan bahan berupa pelat aluminium dengan
ketebalan 2 mm. Metode yang digunakan yaitu merancang TEM
Cell menggunakan aplikasi CST microwave studio, melakukan
fabrikasi ,dan melakukan pengujian hasil fabrikasi TEM cell.
Nilai VSWR (Voltage Standing Wave Ratio) hasil fabrikasi yang
didapat memenuhi standar (1≥VSWR≥2) pada rentang frekuensi
38 – 72 MHz , 98 – 144 MHz, 176 – 198 MHz, 280 – 391MHz,
468 – 631 MHz, 707 – 828 MHz dan frekuensi 955 – 1000 MHz,
sementara nilai VSWR terendah adalah 1.07 pada frekuensi 653
MHz. Nilai return loss yang didapat juga memenuhi standar
berada dibawah -10 dB yaitu pada frekuensi 30 MHz – 50 MHz,
170 MHz – 270 MHz, 410 MHz – 495 MHz, 640 MHz – 740
MHz, 860 MHz – 955 MHz, dengan nilai return loss terendah
adalah -30,44 dB pada frekuensi 408 MHz. TEM cell hasil
fabrikasi dapat mengukur radiated emission yang dihasilkan oleh
rangkaian EMI Source, Handphone, rangkaian mikrokontroller,
dan ethernet shield .
Kata kunci: TEM Cell, EMI/EMC Tes, Radiated Emission,
Electromagnetic.